Zespół Innowacji, Technologii i Analiz

Techniki obrazowania

 

Elektronowa mikroskopia skaningowa (SEM)

Technika

Elektronowa mikroskopia skaningowa (SEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop SEM/Quanta/FEG 250/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa,
  • Próbki w postaci ciał stałych (próbki objętościowe, warstwy, proszki) o średnicy i wysokości nie większej niż 5 cm.

Co pozwala określić 

  • Informacje o (mikro)strukturze powierzchni i zmianach jej składu chemicznego w szerokim zakresie powiększeń; analiza układów warstwowych, przekrojów poprzecznych i proszków; określanie wielkości obiektów, w tym nanocząstek,
  • Uzyskiwane rozdzielczości na poziomie pojedynczych nanometrów.
Nasza strona internetowa używa plików cookies (tzw. ciasteczka) w celach statystycznych i funkcjonalnych. Użytkownik może zaakceptować pliki cookies albo wyłączyć je w przeglądarce.
Więcej informacji Ok