Zespół Innowacji, Technologii i Analiz

Techniki obrazowania

 

Mikroskopia sił atomowych (AFM) z trybami mechanicznym i elektrycznym

Technika

Mikroskopia sił atomowych (AFM) z możliwością mapowania właściwości mechanicznych i elektrycznych

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop Sił Atomowych DIMENSION ICON z NanoScope V, skaner 90 μm / BRUKER

Warunki pomiaru 

  • obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 21 cm i grubości do 1,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
  • możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub cieczy (woda)
  • obrazowanie w temperaturze pokojowej

Co pozwala określić 

  • otrzymywanie map o wymiarach od ok. 500 nm do 90 µm w osi XY oraz do 10 µm w osi Z z rozdzielczością do 5120x5120
  • topografię powierzchni przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode)
  • właściwości nanomechaniczne próbek (tryb PF-QNM) – adhezja, deformacja, Moduł Young’a, rozproszenie
  • przewodność elektryczną próbek (tryb PF-TUNA) – tylko dla próbek przewodzących
Nasza strona internetowa używa plików cookies (tzw. ciasteczka) w celach statystycznych i funkcjonalnych. Użytkownik może zaakceptować pliki cookies albo wyłączyć je w przeglądarce.
Więcej informacji Ok