Zespół Innowacji, Technologii i Analiz

Techniki obrazowania

 

Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Technika

Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop Sił Atomowych, MultiMode z NanoScope IIId, skaner 10 µm / Veeco (aktualnie BRUKER)

Warunki pomiaru 

  • obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 1,5 cm i grubości do 0,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
  • możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub cieczy (woda)
  • obrazowanie w temperaturze pokojowej oraz podwyższonej (do 60°C)

Co pozwala określić 

  • otrzymywanie map o wymiarach od ok. 500 nm do 14 µm w osi XY oraz do 2,8 µm w osi Z z rozdzielczością do 512x512
  • topografię powierzchni przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode)
Nasza strona internetowa używa plików cookies (tzw. ciasteczka) w celach statystycznych i funkcjonalnych. Użytkownik może zaakceptować pliki cookies albo wyłączyć je w przeglądarce.
Więcej informacji Ok