Zespół Innowacji, Technologii i Analiz

Techniki obrazowania

 

Technika

Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop AFM/Multimode/Veeco (aktualnie BRUKER)

Warunki pomiaru 

  • Obrazowanie topografii powierzchni przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode).
  • Możliwość obrazowania w atmosferze cieczy (woda) – wycena indywidualna.
  • Możliwość obrazowania w podwyższonej temperaturze (do 60°C) - wycena indywidualna.

Co pozwala określić 

  • Obrazowanie próbek o średnicy do 1,5 cm i grubości do 0,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu,
  • Otrzymywanie map topografii o wymiarach od 500 nm do 14 µm w osi XY oraz do 2,8 µm w osi Z, z rozdzielczością w osi Z poniżej 0.3 Å.
 

Technika

Tomografia elektronowa

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop (S)TEM/Tecnai/F20/FEI Company, oprogramowanie Explore3D/FEI Company, oprogramowanie AMIRA/FEI Company, uchwyty tomograficzne/Gatan i Fischione

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa lub ciekłego azotu,
  • Maksymalna grubość badanych obiektów (próbki) poniżej 500 nm

Co pozwala określić 

  • Obrazowanie (ultra)struktury trójwymiarowej z rozdzielczością przestrzenną do 3-5 nm głównie polimerów i próbek biologicznych,
  • Wizualizacja i segmentacja składników struktury.
 

Technika

Elektronowa mikroskopia transmisyjna w trybie mrożeniowym (krio-TEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop (S)TEM/Tecnai/F20/FEI Company, urządzenie do witryfikacji Vitrobot/FEI Company, uchwyty mrożeniowe/Gatan

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura ciekłego azotu,
  • Próbki przed zamrożeniem w postaci zawiesin w roztworach, maksymalna grubość badanych obiektów (próbki) poniżej 500 nm.

Co pozwala określić 

  • Obrazowanie ultrastruktury materiałów czułych na wiązkę elektronową, w tym polimerów i próbek biologicznych (białka, wirusy),
  • Obrazowanie próbek w stanie naturalnym (bez utrwalania i kontrastowania).
 

Technika

Elektronowa mikroskopia transmisyjna (TEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop (S)TEM/Tecnai/F20/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa,
  • Grubość próbki/obiektów nie większa niż 300 nm,
  • Próbki w postaci zawiesin nakrapiane na siatki, próbki objętościowe wymagają pocienienia.

Co pozwala określić 

  • Obrazowanie mikro- i nanostruktury, w tym z wysoką rozdzielczością (do 2,5 Å),
  • Informacji o zmienności składu chemicznego; analiza fazowa na podstawie dyfrakcji; obrazowanie nanoobiektów oraz ultracienkich warstw i ich granic fazowych.
 

Technika

Elektronowa mikroskopia skaningowa w trybie środowiskowym (ESEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop SEM/Quanta/FEG 250/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Zakres ciśnień (para wodna) od 10 do 4000 Pa,
  • Temperatura -25 - +50 °C,
  • Próbki w postaci ciał stałych i zawiesin.

Co pozwala określić 

  • Informacje o strukturze powierzchni i zmianach jej składu chemicznego z typowymi rozdzielczościami na poziomie kilku nm,
  • Obrazowanie próbek mokrych; wykonywanie eksperymentów dynamicznych
 

Technika

Energodyspersyjna spektroskopia promieniowania rentgenowskiego (EDS)

Nazwa aparatu/producent 

Detektor EDS/Apollo 10/EDAX Int. w mikroskopie SEM/Quanta/FEG 250/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa,
  • Próbki w postaci ciał stałych (próbki objętościowe, warstwy, proszki) o średnicy i wysokości nie większej niż 5 cm.

Co pozwala określić 

  • Analiza ilościowa składu pierwiastkowego (Z>3) w mikroobszarach i jakościowa w nanoobszarach
  • Próg detekcji >0,1% (wag.) zależny od pierwiastka; typowe rozdzielczości przestrzenne > 1μm.
 

Technika

Elektronowa mikroskopia skaningowa (SEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop SEM/Quanta/FEG 250/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa,
  • Próbki w postaci ciał stałych (próbki objętościowe, warstwy, proszki) o średnicy i wysokości nie większej niż 5 cm.

Co pozwala określić 

  • Informacje o (mikro)strukturze powierzchni i zmianach jej składu chemicznego w szerokim zakresie powiększeń; analiza układów warstwowych, przekrojów poprzecznych i proszków; określanie wielkości obiektów, w tym nanocząstek,
  • Uzyskiwane rozdzielczości na poziomie pojedynczych nanometrów.
Nasza strona internetowa używa plików cookies (tzw. ciasteczka) w celach statystycznych i funkcjonalnych. Użytkownik może zaakceptować pliki cookies albo wyłączyć je w przeglądarce.
Więcej informacji Ok