Zespół Innowacji, Technologii i Analiz

Techniki obrazowania

 

Technika

Mikroskopia sił atomowych (AFM) z możliwością mapowania właściwości mechanicznych i elektrycznych

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop Sił Atomowych DIMENSION ICON z NanoScope V, skaner 90 μm / BRUKER

Warunki pomiaru 

  • obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 21 cm i grubości do 1,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
  • możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub cieczy (woda)
  • obrazowanie w temperaturze pokojowej

Co pozwala określić 

  • otrzymywanie map o wymiarach od ok. 500 nm do 90 µm w osi XY oraz do 10 µm w osi Z z rozdzielczością do 5120x5120
  • topografię powierzchni przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode)
  • właściwości nanomechaniczne próbek (tryb PF-QNM) – adhezja, deformacja, Moduł Young’a, rozproszenie
  • przewodność elektryczną próbek (tryb PF-TUNA) – tylko dla próbek przewodzących
 

Technika

Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop Sił Atomowych, MultiMode z NanoScope IIId, skaner 10 µm / Veeco (aktualnie BRUKER)

Warunki pomiaru 

  • obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 1,5 cm i grubości do 0,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
  • możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub cieczy (woda)
  • obrazowanie w temperaturze pokojowej oraz podwyższonej (do 60°C)

Co pozwala określić 

  • otrzymywanie map o wymiarach od ok. 500 nm do 14 µm w osi XY oraz do 2,8 µm w osi Z z rozdzielczością do 512x512
  • topografię powierzchni przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode)
 

Technika

Tomografia elektronowa

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop (S)TEM/Tecnai/F20/FEI Company, oprogramowanie Explore3D/FEI Company, oprogramowanie AMIRA/FEI Company, uchwyty tomograficzne/Gatan i Fischione

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa lub ciekłego azotu,
  • Maksymalna grubość badanych obiektów (próbki) poniżej 500 nm

Co pozwala określić 

  • Obrazowanie (ultra)struktury trójwymiarowej z rozdzielczością przestrzenną do 3-5 nm głównie polimerów i próbek biologicznych,
  • Wizualizacja i segmentacja składników struktury.
 

Technika

Elektronowa mikroskopia transmisyjna w trybie mrożeniowym (krio-TEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop (S)TEM/Tecnai/F20/FEI Company, urządzenie do witryfikacji Vitrobot/FEI Company, uchwyty mrożeniowe/Gatan

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura ciekłego azotu,
  • Próbki przed zamrożeniem w postaci zawiesin w roztworach, maksymalna grubość badanych obiektów (próbki) poniżej 500 nm.

Co pozwala określić 

  • Obrazowanie ultrastruktury materiałów czułych na wiązkę elektronową, w tym polimerów i próbek biologicznych (białka, wirusy),
  • Obrazowanie próbek w stanie naturalnym (bez utrwalania i kontrastowania).
 

Technika

Elektronowa mikroskopia transmisyjna (TEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop (S)TEM/Tecnai/F20/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa,
  • Grubość próbki/obiektów nie większa niż 300 nm,
  • Próbki w postaci zawiesin nakrapiane na siatki, próbki objętościowe wymagają pocienienia.

Co pozwala określić 

  • Obrazowanie mikro- i nanostruktury, w tym z wysoką rozdzielczością (do 2,5 Å),
  • Informacji o zmienności składu chemicznego; analiza fazowa na podstawie dyfrakcji; obrazowanie nanoobiektów oraz ultracienkich warstw i ich granic fazowych.
 

Technika

Elektronowa mikroskopia skaningowa w trybie środowiskowym (ESEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop SEM/Quanta/FEG 250/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Zakres ciśnień (para wodna) od 10 do 4000 Pa,
  • Temperatura -25 - +50 °C,
  • Próbki w postaci ciał stałych i zawiesin.

Co pozwala określić 

  • Informacje o strukturze powierzchni i zmianach jej składu chemicznego z typowymi rozdzielczościami na poziomie kilku nm,
  • Obrazowanie próbek mokrych; wykonywanie eksperymentów dynamicznych
 

Technika

Energodyspersyjna spektroskopia promieniowania rentgenowskiego (EDS)

Nazwa aparatu/producent 

Detektor EDS/Apollo 10/EDAX Int. w mikroskopie SEM/Quanta/FEG 250/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa,
  • Próbki w postaci ciał stałych (próbki objętościowe, warstwy, proszki) o średnicy i wysokości nie większej niż 5 cm.

Co pozwala określić 

  • Analiza ilościowa składu pierwiastkowego (Z>3) w mikroobszarach i jakościowa w nanoobszarach
  • Próg detekcji >0,1% (wag.) zależny od pierwiastka; typowe rozdzielczości przestrzenne > 1μm.
 

Technika

Elektronowa mikroskopia skaningowa (SEM)

Nazwa aparatu/producent 

Mikroskop SEM/Quanta/FEG 250/FEI Company

Warunki pomiaru 

  • Wysoka próżnia,
  • Temperatura pokojowa,
  • Próbki w postaci ciał stałych (próbki objętościowe, warstwy, proszki) o średnicy i wysokości nie większej niż 5 cm.

Co pozwala określić 

  • Informacje o (mikro)strukturze powierzchni i zmianach jej składu chemicznego w szerokim zakresie powiększeń; analiza układów warstwowych, przekrojów poprzecznych i proszków; określanie wielkości obiektów, w tym nanocząstek,
  • Uzyskiwane rozdzielczości na poziomie pojedynczych nanometrów.
Nasza strona internetowa używa plików cookies (tzw. ciasteczka) w celach statystycznych i funkcjonalnych. Użytkownik może zaakceptować pliki cookies albo wyłączyć je w przeglądarce.
Więcej informacji Ok