Zespół Innowacji, Technologii i Analiz

Charakterystyka struktury chemicznej

 

Technika

Spektrometria mas ESI-MS

Nazwa aparatu/producent 

Spektrometr masowy z jonizacją metodą elektrorozpylania (Thermo Fisher Scientific Inc., San Jose, CA, USA)

Warunki pomiaru 

Związki o masie poniżej 4000 Da. Próbki muszą być rozpuszczalne w rozpuszczalnikach takich jak acetornitry, chloroform, metanol, THF, woda.

Co pozwala określić 

Badania struktury oligomerów (polimerów o masach poniżej 4000 Da): analiza grup końcowych pozwala określić skład kopolimerów (jakościowe).

 

Technika

Spektroskopia FTIR

Nazwa aparatu/producent 

Spektrometr Jasco FT-IR-6700 (Jasco Corporation, Tokyo, Japan) wyposażony w sondy MultiLoop-MIRTM (Harrick Scientific Products Inc., Pleasantville, NY. USA)

Warunki pomiaru 

Zakres długości fali: 6500 cm-1 do 600 cm-1 (sonda FOP2-CIR od 6500 cm-1 do 1700 cm-1, sonda FOP2-PIR od 2000 cm-1 do 600 cm-1). Postać próbek: roztwory (wodne oraz organiczne), pasty, „miękkie” ciała stałe. Pomiary mogą być wykonywane od temperatury pokojowej do 100˚C.

Co pozwala określić 

Układ pozwala na przeprowadzenie analizy próbek na zewnątrz spektrometru FTIR, w tym monitorowanie przebiegu reakcji chemicznych dzięki możliwości umieszczenia sondy bezpośrednio w kolbie reakcyjnej.

 

Technika

Nazwa techniki

Nazwa aparatu/producent 

Spektrometr FT-IR ATR, Thermo Scientific, Nicolet 6700, rok 2009

Warunki pomiaru 

Spektrometr wyposażony w przystawki: Smart Orbit z kryształem diamentowym oraz ZnS i przystawkę PIKE Vee Max II o zmiennym kącie. Próbka w postaci warstwy, folii, proszku, granulatu.

Co pozwala określić 

Technika pozwala na określenie rodzaju materiału oraz obecności grup funkcyjnych na powierzchni.

 

Technika

Spektrometria magnetycznego rezonansu jądrowego (NMR)

Nazwa aparatu/producent 

Nadprzewodzący spektrometr magnetycznego rezonansu jądrowego wysokiej rozdzielczości - 600MHz model Ultrashield Avance II (firmy BRUKER)

Warunki pomiaru 

  • MAGNES/LOCK SYSTEM -aktywnie ekranowany magnes nadprzewodzący najnowszej generacji 14,095 T.
  • Oprzyrządowanie umożliwiające pracę w niskich temperaturach (do -150 ºC) z użyciem ciekłego azotu.
  • Szerokopasmowa sonda 5 mm w zakresie minimum od Ag-109 do P-31.
  • Przełączana poczwórna sonda 5 mm z automatycznym przełączaniem pomiędzy jądrami 13C, 31P, 1H i 15N.
  • Potrójna sonda kriogeniczna 5 mm z automatycznym przełączaniem pomiędzy jądrami 1H, 13C i 15N.
  • Krioplatforma - urządzenie i akcesoria schładzające do operacji z sondami kriogenicznymi.

Co pozwala określić 

Technika pozwala na określenie struktury wymagających wysokich częstotliwości pola i czułości (analizy mikrostruktury łańcuchów polimerowych, nowej generacji leków, struktury biopolimerów, pomiary płynów ustrojowych itp.).)

 

Technika

Spektroskopia Ramana

Nazwa aparatu/producent 

Witec Alpha M300+ λ= 532 nm

Warunki pomiaru 

Stabilne warunki otoczenia (stała wilgotność powietrza, temperatura). Możliwość analizy próbek na podłożu lub bez niego w formie ciał stałych (np. filmów, kształtek, proszków rozprowadzonych na podłożu).

Co pozwala określić 

Metoda komplementarna ze spektroskopią IR, pozwala określić charakterystyczne drgania grup funkcyjnych. Bardzo przydatne narzędzie do pomiaru materiałów węglowych, możliwość przedstawienia składu substancji w masie badanej próbki. Możliwości pomiarowe zależą od posiadanej długości lasera wzbudzającego.

 

Technika

Spektroskopia UV-VIS

Nazwa aparatu/producent 

Spektrofotometr UV-Vis Jasco V-530, Jasco, rok 2005

Warunki pomiaru 

Spektrofotometr UV-Vis z przystawką temperaturową. Zakres długości fali: 190 - 1100 nm, zakres temperatur pomiaru 15-90°C.

Co pozwala określić 

Umożliwia analizę jakościową na podstawie widm oraz analizę ilościową na podstawie krzywej kalibracji oraz wyznaczanie temperatur zmętnienia.

 

Technika

Spektroskopia UV-VIS-NIR

Nazwa aparatu/producent 

Spektrofotometr UV-Vis-NIR / V-570 /JASCO /

Warunki pomiaru 

  • Zakres spektralny przyrządu: 200-2500 nm;
  • Dwuwiązkowy pomiar (wiązki: badana i porównawcza).
  • Pomiary dla cieczy (kuwety kwarcowe) oraz ciał stałych w formie folii swobodnych lub warstw na podłożach (uchwyty).
  • Pomiary transmisyjne (absorpcyjne) „na wprost” oraz pomiary odbiciowe (odbicie podstawowe „zwierciadlane”).
  • Pomiary światła rozproszonego (transmisji i odbicia dyfuzyjnego) dzięki sferze całkującej (kula Ulbrichta) firmy JASCO.
  • Pomiary temperaturowe in situ ciał stałych, w trakcie wygrzewania lub schładzania (specjalna przystawka z oprogramowaniem, sterującym zmianą temperatury). Zakres temperatur 10-600 ºC.

Co pozwala określić 

  • Pasma absorpcji (długości fali światła absorbowanego) dla różnych materiałów z ich widm absorbcji.
  • Granicę przepuszczalności światła oraz poziom transmisji w zakresie przepuszczalności z pomiarów transmisji.
  • Widma transmisji i odbicia umożliwiają wyznaczenia energii przejść optycznych oraz wartości przerwy wzbronionej materiału.
  • Współczynnik załamania i ekstynkcji materiału wyznaczany bezpośrednio z widm odbicia podstawowego, metodą Kramersa-Kroniga, dzięki dostępnemu oprogramowaniu.
  • Niejednorodności próbki - na podstawie pomiarów transmisji dyfuzyjnej; nierówności powierzchni z widm odbicia dyfuzyjnego.
  • Grubość warstw może być wyznaczona z interferencji w widmach transmisji i odbicia.
  • Stabilność temperaturową materiałów z pomiarów in situ oraz zmiany struktury chemicznej w trakcie wygrzewania i temperaturę graniczną materiału.
Nasza strona internetowa używa plików cookies (tzw. ciasteczka) w celach statystycznych i funkcjonalnych. Użytkownik może zaakceptować pliki cookies albo wyłączyć je w przeglądarce.
Więcej informacji Ok